X射線無損鍍層厚度測試儀:X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發了,
X射線無損鍍層厚度測試儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,成為自由電子,這時原子被激發了,處于激發態。此時,其他的外層電子便會填補這一空位,即所謂的躍遷,同時以發出X射線的形式放出能量。
由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
X射線無損鍍層厚度測試儀技術指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
天瑞電鍍層測厚儀器X-ray 光譜法:
適用于測定電鍍及電子線路板等行業需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。
本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,或同時測量三層組分的厚度和成分。
鍍層厚度分析儀根據測量原理一般有以下五種類型:
1.磁性測厚法
適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法
適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法
目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。
4.電解測厚法
此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法
此種儀器價格昂貴,適用于一些特殊場合。